熱成像被定義為使用紅外傳感器檢測物體在紅外光譜的近紅外SWIR、中紅外MWIR或遠紅外LWIR區(qū)域發(fā)射的輻射。我們知道，任何溫度高于絕對零度的物體都會發(fā)出輻射，而可檢測到的輻射量取決于物體的溫度和發(fā)射率，以及用于成像的傳感器類型。一般來說，對于熱成像，更高的溫度意味著更多的輻射和更短的峰值波長發(fā)射。本文通過介紹近紅外相機的熱成像應用，在高溫生產(chǎn)工藝中具有很大的幫助作用。
近紅外相機是高溫熱成像應用的常用工具，在熱成像場景中的物體溫度通常是高于150°C，比工業(yè)熔爐監(jiān)控、熱端玻璃瓶檢測以及熔融金屬中的熔渣雜質檢測等一些檢測應用中。近紅外SWIR填上了遠紅外LWIR和可見光(>700°C) 熱成像之間的空白。對于大多數(shù)高溫場景中的金屬物體，在近紅外SWIR范圍內具有較大的發(fā)射率值，發(fā)射率的微小變化只會導致所測量得到的物體表面溫度值的微小變化。
在爐檢的熱成像檢測應用中，近紅外相機可以集成到測量系統(tǒng)中，用于對高溫工業(yè)爐進行連續(xù)監(jiān)測。高溫爐用于各種工業(yè)市場，包括石化和紙漿/紙張加工。為了將熔爐效率保持在較高水平并確保不會發(fā)生災難性故障，監(jiān)控材料堆積和熔爐溫度以及其他特定于應用的操作參數(shù)非常重要。在檢測熔融金屬中的爐渣雜質的熱成像檢測應用中，由于在該高溫溫度下熔渣和金屬之間的發(fā)射率差異，紅外相機中近紅外相機在檢測和監(jiān)測熔融金屬中的熔渣雜質方面是有效的，這對于紅外相機熱成像檢測中有助于防止不需要的雜質污染金屬。在鋼材生產(chǎn)工藝中，缺少此工藝終點會影響鋼材質量，并直接轉化為制造設施的更高生產(chǎn)成本。在玻璃檢測的熱成像檢測應用中，玻璃生產(chǎn)工藝的熱端挑選有缺陷的玻璃產(chǎn)品，同時溫度仍高于200°C，這對玻璃制造商來說特別有效。在這個玻璃制造階段，識別出廢品，然后將其分流并有效地進行再加工，從而大大減少廢品。與熱像儀不同，Xenics紅外相機中短波近紅外相機可以透過玻璃成像，使操作員能夠檢查瓶子的內壁和外壁，并監(jiān)控材料的溫度均勻性和冷卻速度。
所以，對于近紅外相機的熱成像應用，紅外相機熱成像檢測場景中高溫(>150°C)熱成像，Xenics紅外相機中SWIR InGaAs傳感器檢測，從900至1700nm范圍內的發(fā)射輻射，高溫下的金屬在SWIR中具有較大且相當恒定的發(fā)射率值，也就是說近紅外SWIR填上了遠紅外LWIR和可見光(>700°C) 熱成像之間的空白。而且，Xenics紅外相機中SWIR相機近紅外相機，可通過玻璃鏡片和窗戶成像，更便于檢測觀察。
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